基于双LED光源积分球的硅探测器宽动态范围响应线性定标
1 引言
光辐射探测器的线性指探测器的响应度随入射光辐射通量强度的变化而保持不变[1]。探测器线性的精确测量是光度测量、辐射度测量和热辐射测量领域的重要条件。目前低温绝对辐射计是公认的光辐射测量绝对精度最高的标准辐射计,其测量激光绝对功率的不确定度为0.005%~0.023%[2-4],已被许多国家实验室作为初级辐射标准。但是低温辐射计运行条件苛刻,费用昂贵,不便作为常规运行的基准,而且其功率响应动态范围小,一般只有一个量级,如安徽光学精密机械研究所研制的低温绝对辐射计功率响应动态范围为25~250 μW[4],在动态范围上往往与应用探测不一致,这就要求以线性位移不变测量系统来实现高精度辐射比对测量及其标准传递。在材料的漫反射特性测量和大动态辐射标准传递过程中,探测器测量信号的变化范围达4个量级甚至更多。在双向反射分布函数(BRDF)绝对测量中,光辐射测量单元的测量信号动态范围在4个量级以上[5-7],可见光红外成像辐射计白天/夜晚通道(VIIRS DNB)的测量动态范围近7个量级[8]。硅探测器响应率高、响应波段宽、线性范围大、制造工艺成熟,是作为可见-近红外波段辐射标准传递的最好选择。维持高精度并实现线性位移不变测量,为了得到较高的辐射标准传递精度和绝对测量精度,对硅探测器的线性进行定标十分必要。而且对于大动态范围辐射源,对其辐射能级变化进行监控的一个简单有效的方法就是使用动态范围足够大、线性特性优良的硅探测器[9]。所以,对硅探测器的线性进行高精度测量并修正,可以大大降低辐射测量和辐射标准传递的不确定度,提高测量精度。
探测器线性测量方面的研究已经有很长时间,研究机构做了大量的研究工作。对探测器线性测量的方法大致归为两种:间接测量法和直接测量法。间接测量法有滤光片或滤光片组合法、偏振片法、用标定过线性的探测器标定待测探测器法等[10-12],直接测量法主要为光通量叠加法[13-15]。间接测量法发展较早,其测量过程简单,测量速度快,但是由于测量时引入的辅助测量器件如滤光片、偏振片等会增加测量项(如滤光片透过率、稳定性测量,偏振片的偏振特性测量等),因此必然会引入额外的测量误差。
随着研究的深入,研究人员越来越多地采用基于光通量叠加的直接测量法。美国国家标准与技术研究院(NIST)基于以上方法建立了Beamcon Ⅲ探测器线性测量系统,利用该装置测量了硅探测器9个量级内的线性和铟镓砷探测器4个量级的线性,测量不确定度分别为0.054%(
2 原理
光通量叠加是线性的,以此为基准就可以检测探测器响应是否线性。就光电探测器而言,当探测器未饱和时到达探测器的光通量是探测器响应电流的单调递增函数,即光通量与探测器电流有一一对应关系。双LED积分球线性测量方法是由两个相同的LED光源(A和B)产生两个近似相等的光通量
式中
令
据此,探测器的响应非线性得到修正,
非线性测量中,通过上述的光通量逐次递增叠加,实现宽动态范围内光电探测器响应非线性测量。在每阶测量中得到的是该测量值对应的非线性因子,只能修正该测量值中包含的线性误差。而在线性位移不变的测量系统中测量信号有多个量级,测量结果中包括了探测器多阶的非线性误差累积。这就需要在探测器响应动态范围内选择线性最优的响应值或者响应值的端点作为参考点,来计算探测器在各个量级响应值的非线性修正因子。测量点至参考点范围的非线性修正因子可通过下式计算得到:
式中,
3 实验装置
图 1. 硅探测器线性测量装置示意图
Fig. 1. Schematic of the Si detectors linearity measurement instrument
根据光通量的叠加原理,搭建了一套如
4 实验结果
为了得到探测器响应电流与LED注入电流之间的关系,测量了不同LED工作电流下探测器的响应电流,其测量结果如
图 2. 探测器响应电流与LED注入电流之间的关系
Fig. 2. Relationship between detector response current and LED injection current
从
根据不同的LED注入电流测量了探测器响应电流在3.92×10-11~0.01 A范围内硅探测器的线性,计算了硅探测器的非线性修正因子和线性误差,分别如
5 分析与讨论
通过光通量叠加的方法,在探测器响应电流从3.92×10-11 ~0.01 A一阶一阶逐渐增加,测量了硅探测器的线性。以非线性因子最接近1(即线性最好)的点(光电流为2.05×10-8 A,非线性修正因子为1.000004)作为参考点计算了非线性修正因子和线性误差,参考点为
探测器在测量范围内线性的好与坏、非线性修正因子测量的准确与否直接影响了测量系统的测量精度。准确测量非线性修正因子,可以有效校正探测器线性误差,对提高测量系统的精度具有很重要的意义。探测器非线性修正因子的测量精度主要受LED光源之间的光谱差异、波长漂移、LED辐射功率稳定性以及响应低端信噪比等因素的影响。
5.1 LED光谱差异及波长漂移的影响
非线性测量时尽管用了两个型号相同的LED,但依然有可能存在光谱差异,并且注入电流范围大,中心波长会漂移。通过大量筛选,选择了两个发光光谱曲线接近一致的LED,其在0.1 A注入电流下的相对光谱曲线如
在非线性修正的各阶,LED辐射功率相同,光谱相同,非线性修正因子不受光谱漂移影响,对非线性修正因子、不确定评估无影响。但当进行下一级非线性测量时,LED注入电流增大,中心波长有略微的漂移,如
图 6. 注入不同电流时LED相对光谱辐亮度
Fig. 6. Relative spectral radiance of the LED with different injection currents
通过分析探测器相同响应电流下不同入射光谱测得的非线性因子的相对标准偏差来定量评估线性测量过程中光谱漂移对线性测量精度的影响。在探测器与积分球光源之间插入不同光密度(OD)的中性滤光片,如
表 1. 光谱漂移测量数据
Table 1. Measurement data of spectral drift
|
通过不同阶段的测量数据可以看到,光谱漂移对线性测量产生的不确定度与LED注入电流的大小呈反比,注入电流越小光谱漂移产生的不确定度越大。当认为探测器响应电流与LED辐射光通量之间为线性关系时,则
5.2 LED出射光功率随时间变化的影响分析,LED辐射输出稳定性的影响
实验装置中采用LED光源的优点是,LED为非相干光源,具有寿命长、稳定性好、亮度高、光谱选择范围大等优点,避免了相干光源有可能产生的干涉对测量的影响,易于实现紫外-短波红外范围的探测器响应线性测量,而且LED的开关和光通量可以通过其注入电流快速调节,这就可以省略机械快门,减少杂散光并使实验装置简化。同时也存在缺点,LED的光辐射功率很容易受到温度的影响,这主要是因为LED通电之后内部PN节温度升高,从而使LED的发光效率发生改变,影响线性测量的精度。
为减小温度的影响,通过时间序列数据采集算法修正一个测量周期内LED光功率受温度的影响。该算法将数据采集的时间考虑进来,则非线性因子可表示为:
式中
式中
从(8)式可以清楚地看到分子和分母是在LED点亮后的不同时刻获得的,这就引入额外的误差。为了修正采集时刻不同引起的误差,交换
取(8)式跟(9)式的几何平均值来定义探测器响应在某响应电流下的非线性:
从(10)式可以看出,经过修正后式中分子分母的响应值都是在相同的时刻获得的,可将误差进一步减小。修正前后非线性因子如
从结果可以看出,通过时间序列采集算法可以将非线性因子进一步优化。在探测器响应电流值的高端和低端,探测器测得的非线性因子在LED点亮顺序交换前后差别较大。探测器响应高端的差异跟LED的温度敏感特性有很大关系,因为在响应高端LED电功率接近10 W,尽管采用快速打开、关闭的方式,但还是会有大量的热量堆积导致LED的发光效率发生变化,同时不同的LED发光效率变化大小存在差异,从而影响探测器非线性定标精度,通过该算法可以弥补由于热量累积导致的误差。探测器响应低端的差异,一方面LED的辐射功率很小,另一方面在该辐射功率下已经接近探测器探测能力的下限,这两方面的因素导致测量数据的信噪比降低,非线性比例系数差异增大,通过该算法计算几何平均值可以进一步减小测量误差。
5.3 小信号处理
LED注入电流在1 μA~1 A范围内有6个量级可调,LED输出光通量达到9个量级,覆盖了探测器的响应高端和低端。为了精确测量数据,将探测器、数据采集器等屏蔽并接地,且采集器有8个量程(2 nA~20 mA),通过调整量程,使得探测器测量的输出计数值接近满量程附近。但是当探测器响应值小于2 nA时,已经达到采集器的最小量程,采集器电路引入的噪声与探测器内阻、采集器中放大电路的反馈电阻和温度等因素有关[18],与电路的输入电流无关,故探测器的响应电流越小采集器采集数据的信噪比就越小,从而采集数据的不确定度就越大。所以为了提高小信号测量的精度,可以通过多次测量求平均来获取小信号测量值。
5.4 非线性修正因子测量不确定度分析
实验中各阶非线性因子都是通过多次测量取平均值得到的,即:
式中
其相对不确定度可通过下式即标准不确定度与均值的比值计算得到:
根据不确定度传递定律,各阶非线性因子的相对不确定度可通过下式计算得到:
通过(14)式可得各阶非线性因子的相对测量不确定度,如
各阶非线性因子之间是相互独立的,由(4)式和各阶非线因子的测量不确定度可得到非线性修正因子的相对测量不确定度为:
其计算结果如
根据不确定度传递定律,非线性修正因子的相对不确定度主要由测量过程中LED的光谱漂移和非线性修正因子的测量不确定度共同产生,测量系统的相对合成不确定度为:
系统相对合成不确定度计算结果如
表 2. 测量系统的合成不确定度
Table 2. Combined uncertainty of measurement system
|
6 结论与展望
基于光通量叠加法建立了线性测量系统,通过控制LED光源的点亮和关闭实现光通量叠加,取代了机械快门的开闭,加快了线性测量的效率。测量了硅探测器响应电流在3.92×10-11~0.01 A范围内近9个量级的线性,给出了整个测量范围内的非线性修正因子,其数值范围在1~1.0023之间,非线性因子在参考点处为1,在测量范围两端略微增加。分析了测量系统的不确定度因素,并分析了LED光谱漂移对测量精度的影响,表明LED光源的光谱漂移对测量系统产生的影响是不可忽略的。测量系统的相对合成不确定度在硅探测器响应电流39.2 pA~0.326 nA、0.326~81.6 nA、81.6 nA~20.4 μA、20.4 μA~10.2 mA范围内的测量不确定度分别为0.269%、0.0116%、0.00536%和0.00320%。本实验可实现硅探测器宽动态范围内高精度的线性定标,对提高线性位移不变系统的测量精度和实现大动态范围辐射标准传递具有重要意义。为进一步降低系统测量的不确定度,提高线性测量系统的测量精度,可进一步改进测量系统,确定LED光谱波动较小的注入电流范围,减小光谱漂移对测量系统的影响。
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刘辉, 陈洪耀, 司孝龙, 张黎明. 基于双LED光源积分球的硅探测器宽动态范围响应线性定标[J]. 光学学报, 2017, 37(9): 0904001. Hui Liu, Hongyao Chen, Xiaolong Si, Liming Zhang. Linear Calibration of Wide Dynamic Range Response of Silicon Detectors Based on Double LEDs Light Source Integrating Sphere[J]. Acta Optica Sinica, 2017, 37(9): 0904001.