激光与光电子学进展, 2020, 57 (16): 161103, 网络出版: 2020-08-05
探测角度对笔束X射线荧光CT成像质量的影响 
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Influence of Detection Angle on the Quality of Pencil-Beam X-Ray Fluorescence CT
基本信息
| DOI: | 10.3788/LOP57.161103 |
| 中图分类号: | TP391 |
| 栏目: | 成像系统 |
| 项目基金: | 重庆市科委基础研究与前沿探索项目、重庆市教育委员会科学技术研究项目、重庆理工大学科研启动基金、重庆理工大学研究生创新基金（ycx20192054,ycx20192056） |
| 收稿日期: | 2020-01-03 |
| 修改稿日期: | 2020-01-09 |
| 网络出版日期: | 2020-08-05 |
| 通讯作者: | 蒋上海 (jiangshanghai@cqut.edu.cn) |
| 备注: | -- |
马致臻, 蒋上海, 罗彬彬, 石胜辉, 邹雪, 汤斌, 吴德操, 赵明富. 探测角度对笔束X射线荧光CT成像质量的影响[J]. 激光与光电子学进展, 2020, 57(16): 161103. Zhizhen Ma, Shanghai Jiang, Binbin Luo, Shenghui Shi, Xue Zou, Bin Tang, Decao Wu, Mingfu Zhao. Influence of Detection Angle on the Quality of Pencil-Beam X-Ray Fluorescence CT[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2020, 57(16): 161103.
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