光谱学与光谱分析, 2018, 38 (1): 82, 网络出版: 2018-01-30
相变区硅薄膜拉曼和红外光谱分析
Raman and IR Study on Silicon Films at Transition Regime
基本信息
| DOI: | 10.3964/j.issn.1000-0593(2018)01-0082-05 |
| 中图分类号: | O433.4 |
| 栏目: | |
| 项目基金: | 国家自然科学基金青年基金项目(61504036), 河北省自然科学基金青年基金项目(A2016201087)资助 |
| 收稿日期: | 2017-09-10 |
| 修改稿日期: | 2017-11-30 |
| 网络出版日期: | 2018-01-30 |
| 通讯作者: | 范闪闪 (fanss1981@126.com) |
| 备注: | -- |
范闪闪, 郭强, 杨彦彬, 丛日东, 于威, 傅广生. 相变区硅薄膜拉曼和红外光谱分析[J]. 光谱学与光谱分析, 2018, 38(1): 82. FAN Shan-shan, GUO Qiang, YANG Yan-bin, CONG Ri-dong, YU Wei, FU Guang-sheng. Raman and IR Study on Silicon Films at Transition Regime[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2018, 38(1): 82.
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