光谱学与光谱分析, 2018, 38 (1): 82, 网络出版: 2018-01-30
相变区硅薄膜拉曼和红外光谱分析
Raman and IR Study on Silicon Films at Transition Regime
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范闪闪, 郭强, 杨彦彬, 丛日东, 于威, 傅广生. 相变区硅薄膜拉曼和红外光谱分析[J]. 光谱学与光谱分析, 2018, 38(1): 82. FAN Shan-shan, GUO Qiang, YANG Yan-bin, CONG Ri-dong, YU Wei, FU Guang-sheng. Raman and IR Study on Silicon Films at Transition Regime[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2018, 38(1): 82.