光学 精密工程, 2003, 11 (4): 368, 网络出版: 2006-11-03
原子力显微镜(AFM)在光盘检测及其质量控制中的应用
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | TP212 |
栏目: | 测试技术及设备 |
项目基金: | 国家教育部博士点基金项目(No.1999069821)、高等学校骨干教师资助计划项目 |
收稿日期: | 2003-01-16 |
修改稿日期: | 2003-02-19 |
网络出版日期: | 2006-11-03 |
通讯作者: | |
备注: | -- |
景蔚萱, 蒋庄德. 原子力显微镜(AFM)在光盘检测及其质量控制中的应用[J]. 光学 精密工程, 2003, 11(4): 368. 景蔚萱, 蒋庄德. [J]. Optics and Precision Engineering, 2003, 11(4): 368.