应用光学, 2007, 28 (4): 0517, 网络出版: 2010-06-03
光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程解读
Explanation of verification procedure for tester of optical film refractive index and thickness
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | TN741 |
栏目: | 标准园地 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2007-06-20 |
修改稿日期: | 2007-06-22 |
网络出版日期: | 2010-06-03 |
通讯作者: | |
备注: | -- |
杨照金, 王雷, 黎高平, 许荣国. 光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程解读[J]. 应用光学, 2007, 28(4): 0517. YANG Zhao-jin, WANG Lei, LI Gao-ping, XU Rong-guo. Explanation of verification procedure for tester of optical film refractive index and thickness[J]. Journal of Applied Optics, 2007, 28(4): 0517.