激光与光电子学进展, 1988, 25 (12): 32, 网络出版: 2013-07-17
用散斑效应直接测量折射角的可能性
摘要
用散斑干涉测量法测量折射角的缺点是记录的两级过程。这种情况难于实现测量过程的自动化和对结果的判读。本文说明用光电探测器的模拟信号实时记录测量折射角的可能性。
Abstract
参考文献
晴天. 用散斑效应直接测量折射角的可能性[J]. 激光与光电子学进展, 1988, 25(12): 32. 晴天. [J]. Laser & Optoelectronics Progress, 1988, 25(12): 32.
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