Experimental studies on the impact of ASE noise of single-channel optical amplifiers in central office applications Download: 603次
[1] R. Ryf, J. Kim, J. P. Hickey, A. Gnauck, D. Carr, F. Pardo, C. Bolle, R. Frahm, N. Basavanhally, C. Yoh, D. Ramsey, R. Boie, R. George, J. Kraus, C. Lichtenwalner, R. Papazian, J. Gates, H. R. Shea, A. Gasparyan, V. Muratov, J. E. Griffith, J. A. Prybyla, S. Goyal, C. D. White, M. T. Lin, R. Ruel, C. Nijander, S. Arney, D. T. Neilson, D. J. Bishop, P. Kolodner, S. Pau, C. Nuzman, A. Weis, B. Kumar, D. Lieuwen, V. Aksyuk, D. S. Greywall, T. C. Lee, H. T. Soh, W. M. Mansfield, S. Jin, W. Y. Lai, H. A. Huggins, D. L. Barr, R. A. Cirelli, G. R. Bogart, K. Teffeau, R. Vella, H. Mavoori, A. Ramirez, N. A. Ciampa, F. P. Klemens, M. D. Morris, T. Boone, J. Q. Liu, J. M. Rosamilia, and C. R. Giles, in Proceedings of OFC 2001 4, PD28-1-3
[2] M. P. Earnshaw, J. B. D. Soole, M. Cappuzzo, L. Gomez, E. Laskowski, and A. Paunescu, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 810 (2003).
[3] N. S. Moon and K. Kikuchi, J. Lightwave Technol. 21, 703 (2003).
[4] Y. Su, G. Raybon, Z. Zheng, S. Chandrasekhar, R. Ryf, and L. Moller, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1467 (2003).
[5] R. M. Jopson, A. H. Gnauck, B. L. Kasper, R. E. Tench, N. A. Olsson, C. A. Burrus, and A. R. Chraplyvy, Electron. Lett. 25, 233 (1989).
[6] K. Dreyer, C. H. Joyner, J. L. Pleumeekers, C. A. Burrus, A. Dentai, B. I. Miller, S. Shunk, P. Sciortino, S. Chandrasekhar, L. Buhl, F. Storz, and M. Farwell, J. Lightwave Technol. 20, 718 (2002).
[7] E. S. Bjorlin, J. Geske, and J. E. Bowers, Electron. Lett. 37, 1474 (2001).
[8] R. S. Tucker and D. M. Baney, in Proceedings of OFC 2001 WI1, 1-3 (2001).
[9] E. Desurvire, Erbium-Doped Fiber Amplifiers---Principles and Applications (John Wiley & Sons, New York, 1994).
[10] M. Murakami, T. Takahashi, M. Aoyama, T. Imai, M. Amemiya, M. Sumida, and M. Aiki, J. Lightwave Technol. 14, 2657 (1996).
Zheng Zheng. Experimental studies on the impact of ASE noise of single-channel optical amplifiers in central office applications[J]. Chinese Optics Letters, 2004, 2(6): 06311.