半导体光子学与技术, 2003, 9 (4): 230, 网络出版: 2011-08-12  

Vibration Compensation for Scanning Tunneling Microscope

Vibration Compensation for Scanning Tunneling Microscope
作者单位
State Key Lab. of Precision Measurement Technology and Instrument, Tianjin University, Tianjin 300072, CHN
基本信息
DOI: --
中图分类号: TN16
栏目:
项目基金: Key Technology Project of Tianjin City (003108611)
收稿日期: 2003-03-21
修改稿日期: 2003-04-15
网络出版日期: 2011-08-12
通讯作者:
备注: --

LI Meng-chao, FU Xing, WEI Xiao-lei, HU Xiao-tang. Vibration Compensation for Scanning Tunneling Microscope[J]. 半导体光子学与技术, 2003, 9(4): 230. LI Meng-chao, FU Xing, WEI Xiao-lei, HU Xiao-tang. Vibration Compensation for Scanning Tunneling Microscope[J]. Semiconductor Photonics and Technology, 2003, 9(4): 230.

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