散射式太赫兹扫描近场光学显微技术研究

岳东东; 游冠军

doi:doi:10.3969/j.issn.1005-5630.2020.02.011

光学仪器, 2020, 42 (2): 64, 网络出版: 2020-05-27

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Study on scattering-type terahertz scanning near-field optical microscopy

岳东东游冠军 ^*

作者单位

上海理工大学光电信息与计算机工程学院，上海 200093

图 & 表

图 1. 偶极子模型

Fig. 1. Dipole model

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图 2. 基于偶极子模型的理论计算结果

Fig. 2. Calculated results based on the dipole model

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图 3. 太赫兹散射式近场扫描显微镜系统示意图和实验测量的太赫兹近场趋近曲线

Fig. 3. Terahertz scattering-type scanning near-field microscope system and near-field approach curves

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图 4. 金薄膜/硅衬底样品的AFM形貌图和太赫兹近场显微图

Fig. 4. AFM topography and THz near-field microscopy images of gold thin film/silicon substrate

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图 5. 少层石墨烯薄片的AFM形貌图和太赫兹近场显微图

Fig. 5. AFM topography and THz near-field microscopy images of few-layer Graphene on SiO₂/Si substrate

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岳东东, 游冠军. 散射式太赫兹扫描近场光学显微技术研究[J]. 光学仪器, 2020, 42(2): 64. Dongdong YUE, Guanjun YOU. Study on scattering-type terahertz scanning near-field optical microscopy[J]. Optical Instruments, 2020, 42(2): 64.

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图 1. 偶极子模型

Fig. 1. Dipole model

图 2. 基于偶极子模型的理论计算结果

Fig. 2. Calculated results based on the dipole model

图 3. 太赫兹散射式近场扫描显微镜系统示意图和实验测量的太赫兹近场趋近曲线

Fig. 3. Terahertz scattering-type scanning near-field microscope system and near-field approach curves

图 4. 金薄膜/硅衬底样品的AFM形貌图和太赫兹近场显微图

Fig. 4. AFM topography and THz near-field microscopy images of gold thin film/silicon substrate

图 5. 少层石墨烯薄片的AFM形貌图和太赫兹近场显微图

Fig. 5. AFM topography and THz near-field microscopy images of few-layer Graphene on SiO₂/Si substrate

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Fig. 1. Dipole model

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Fig. 3. Terahertz scattering-type scanning near-field microscope system and near-field approach curves

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