光学学报, 1983, 3 (6): 573, 网络出版: 2011-09-15
再论测量高斯光斑参数的调制盘方法
Re-discussion on the reticle method for measuring the parameters of Gaussian optical spot
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | -- |
栏目: | 简讯 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | -- |
修改稿日期: | -- |
网络出版日期: | 2011-09-15 |
通讯作者: | |
备注: | -- |
尹达人, 许生龙. 再论测量高斯光斑参数的调制盘方法[J]. 光学学报, 1983, 3(6): 573. YIN DAREN, XU SHENLONG. Re-discussion on the reticle method for measuring the parameters of Gaussian optical spot[J]. Acta Optica Sinica, 1983, 3(6): 573.