强激光与粒子束, 2004, 16 (7): 909, 网络出版: 2006-05-15   

模糊神经网络在电子器件微波易损性评估中的应用

Applications of fuzzy neural network to susceptibility assessments of electronic devices illuminated or injected by microwaves
作者单位
1 西安电子科技大学,雷达信号处理国家重点实验室,陕西,西安,710071
2 西北核技术研究所,陕西,西安,710024
摘要
应用模糊神经网络预测了电子器件失效阈值随高功率微波参数的变化关系.结合电子器件实验数据较少的情况,提出用可能性理论估计器件失效可能性分布的评估方法;结合模糊神经网络的学习预测能力,得到电子器件失效的可能性分布;并将可能性分布和用信息扩散估计方法得到的概率分布进行了比较,前者能够更好地利用实验数据估计器件失效的可能性.
Abstract
In this paper, the fuzzy neural network is applied to evaluate the failure thresholds of electronic devices as a function of the parameters of the high power microwave. Based on the characteristic of experimental data, this paper presents a method to evaluate the possibility distribution of electronic device failure applying the possibility theory. Combining the possibility theory and prediction ability of the fuzzy neural network ,the possibility distribution of electronic device failure can be obtained.

韩峰, 王建国, 焦李成. 模糊神经网络在电子器件微波易损性评估中的应用[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(7): 909. HAN Feng, WANG Jian-guo, JIAO Li-cheng. Applications of fuzzy neural network to susceptibility assessments of electronic devices illuminated or injected by microwaves[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2004, 16(7): 909.

本文已被 4 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!