强激光与粒子束, 2006, 18 (8): 1405, 网络出版: 2007-01-11   

喷气Z箍缩X光辐射信号分析

X-ray radiation of neon gas puff Z-pinch
作者单位
1 中国工程物理研究院,流体物理研究所,四川,绵阳,621900
2 清华大学,电机系,气体放电与等离子体实验室,北京,100084
摘要
在清华大学喷气Z箍缩平台上进行了对Ne气的箍缩软X射线诊断工作.该喷气装置由4个充电至23 kV的电容器并联组成,总储能4.5 kJ,放电电流峰值210 kA,上升沿2.5 μs.实验中通过观测放电电流微分信号来观测箍缩聚焦点的位置(波形的下凹尖峰点),此尖峰也是X光辐射的时间分辨点.利用响应时间为亚ns量级的光敏半导体探测器(PIN)探头获得了Ne气箍缩时等离子体发出的软X射线信号,X光辐射出现在放电电流微分信号突变点附近.一般来说,多次箍缩会导致多次的X光辐射输出,实验中的X光脉冲实际为多个等离子热点辐射叠加的结果,单次箍缩所产生的X光辐射比多次箍缩所产生的X光辐射要强.对每次箍缩来说,单个X光脉冲信号比多个X光脉冲信号的幅值要大.
Abstract
参考文献

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李丰平, 邓建军, 邹晓兵, 张贵新, 韩旻, 王新新. 喷气Z箍缩X光辐射信号分析[J]. 强激光与粒子束, 2006, 18(8): 1405. 李丰平, 邓建军, 邹晓兵, 张贵新, 韩旻, 王新新. X-ray radiation of neon gas puff Z-pinch[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2006, 18(8): 1405.

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