基于白光扫描干涉术的非球面光学元件大范围评价方法

马龙; 张鸿燕; 牛一凡; 郭彤

doi:doi:10.3788/lop51.061207

激光与光电子学进展, 2014, 51 (6): 061207, 网络出版: 2014-05-20

基于白光扫描干涉术的非球面光学元件大范围评价方法

Large Range Evaluation Method Based on White Light Scanning Interferometry for Aspheric Optical Elements

马龙 ^1,*张鸿燕 ¹牛一凡 ¹郭彤 ²

作者单位

¹ 中国民航大学中欧航空工程师学院, 天津 300300

² 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室, 天津 300072

补充材料

马龙, 张鸿燕, 牛一凡, 郭彤. 基于白光扫描干涉术的非球面光学元件大范围评价方法[J]. 激光与光电子学进展, 2014, 51(6): 061207. Ma Long, Zhang Hongyan, Niu Yifan, Guo Tong. Large Range Evaluation Method Based on White Light Scanning Interferometry for Aspheric Optical Elements[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2014, 51(6): 061207.