发光学报, 2016, 37 (10): 1230, 网络出版: 2017-01-13   

不同封装材料的中功率GaN基LED器件老化分析

Degradation Analysis of Mid-power GaN-based LEDs with Different Package Materials
作者单位
中国科学院半导体研究所 半导体照明研发中心, 北京 100083
基本信息
DOI: 10.3788/fgxb20163710.1230
中图分类号: TN383+.1
栏目: 器件制备及器件物理
项目基金: 国家自然科学基金(11574306)、中国国际科技合作计划(2014DFG62280)、 “863”国家高技术研究发展计划(2015AA03A101)资助项目
收稿日期: 2016-04-28
修改稿日期: 2016-05-22
网络出版日期: 2017-01-13
通讯作者: 赵丽霞 (lxzhao@semi.ac.cn)
备注: --

符佳佳, 曹海城, 赵丽霞, 王军喜, 李晋闽. 不同封装材料的中功率GaN基LED器件老化分析[J]. 发光学报, 2016, 37(10): 1230. FU Jia-iia, CAO Hai-cheng, ZHAO Li-xia, WANG Jun-xi, LI Jin-min. Degradation Analysis of Mid-power GaN-based LEDs with Different Package Materials[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2016, 37(10): 1230.

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