采样红外成像系统的混淆效应研究

史浩然; 李召龙; 沈同圣; 娄树理

doi:doi:10.3788/irla201645.0404003

红外与激光工程, 2016, 45 (4): 0404003, 网络出版: 2016-05-11

采样红外成像系统的混淆效应研究

Aliasing effect of sampled infrared imaging system

史浩然 ^1,*李召龙 ¹沈同圣 ²娄树理 ³

作者单位

¹ 海军航空工程学院研究生管理大队, 山东烟台 264001

² 中国国防科技信息中心, 北京 100142

³ 海军航空工程学院控制工程系, 山东烟台 264001

补充材料

史浩然, 李召龙, 沈同圣, 娄树理. 采样红外成像系统的混淆效应研究[J]. 红外与激光工程, 2016, 45(4): 0404003. Shi Haoran, Li Zhaolong, Shen Tongsheng, Lou Shuli. Aliasing effect of sampled infrared imaging system[J]. Infrared and Laser Engineering, 2016, 45(4): 0404003.