红外与激光工程, 2016, 45 (4): 0404003, 网络出版: 2016-05-11
采样红外成像系统的混淆效应研究
Aliasing effect of sampled infrared imaging system
Metrics
摘要访问:5398次
PDF 下载:13次
全文浏览:4次
总被查询:0次
史浩然, 李召龙, 沈同圣, 娄树理. 采样红外成像系统的混淆效应研究[J]. 红外与激光工程, 2016, 45(4): 0404003. Shi Haoran, Li Zhaolong, Shen Tongsheng, Lou Shuli. Aliasing effect of sampled infrared imaging system[J]. Infrared and Laser Engineering, 2016, 45(4): 0404003.