半导体光电, 2018, 39 (1): 47, 网络出版: 2018-08-30
光电二极管批量快速测试系统的设计与实现
Design and Implementation of Batch Quick Testing System for Photodiodes
基本信息
DOI: | 10.16818/j.issn1001-5868.2018.01.010 |
中图分类号: | TN36 |
栏目: | 光电器件 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2017-08-21 |
修改稿日期: | -- |
网络出版日期: | 2018-08-30 |
通讯作者: | 高传顺 (mahuaping.2008@163.com) |
备注: | -- |
高传顺, 马华平, 唐遵烈, 颜嘉俊, 张娜. 光电二极管批量快速测试系统的设计与实现[J]. 半导体光电, 2018, 39(1): 47. GAO Chuanshun, MA Huaping, TANG Zunlie, YAN Jiajun, ZHANG Na. Design and Implementation of Batch Quick Testing System for Photodiodes[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2018, 39(1): 47.