作者单位
摘要
重庆光电技术研究所, 重庆 400060
随着光电二极管的用量不断增大, 手动测试筛选已满足不了测试需求, 定制自动测试系统又存在成本较高、不易推广的缺点。为提高测试效率、解放人力资源及便于测试系统推广, 采用一台KEITHLEY 2400源表及开关控制板构建了批量快速测试系统。开关控制板的阵列开关采用两片1∶8多路复用器实现, 与采用继电器实现相比, 降低了硬件设计难度及复杂度。将开关控制部分与器件载体部分分别设计在两块电路板上, 并用两块载体板交替完成器件安装与测试, 能实现器件插拔与器件测试并行进行, 缩短了测试等待时间。将测试控制、参数测试及数据处理流程化, 使测试效率得到了进一步提高。试验结果表明: 搭建的测试系统可实现一批64只器件的一键式测试, 每只器件单个参数平均测试时间不到1s, 且测试准确度较高。
光电二极管 多路复用器 批量测试 快速测试 photodiodes multiplexer batch test quick test 
半导体光电
2018, 39(1): 47
作者单位
摘要
重庆光电技术研究所, 重庆 400060
为了保证激光器输出功率的稳定, 采用ADN2830给LD提供稳定的驱动电流, 以及采用MAX1978控制热电制冷器(TEC), 通过比例积分微分(PID)补偿电路产生控制信号控制TEC驱动电流的大小和方向, 实现对LD的制冷或加热, 从而保证LD工作在恒定温度下。经实验测试, LD在-35~45℃范围内输出光功率变化率小于0.06%; 在-55~85℃范围内输出光功率变化率小于0.16%。
半导体激光器 变化率 LD ADN2830 ADN2830 MAX1978 MAX1978 PID PID change rate 
半导体光电
2014, 35(5): 916

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