基于表面等离子体共振的微位移光纤传感器 下载: 1493次
1 引言
微小位移的精确控制和测量在很多工业领域有重要作用,如显微操控、精确定位、扫描隧道显微镜、原子力显微镜等。近十年来,光纤微位移传感器发展迅速。早期的光纤微位移传感器大多利用光纤布拉格光栅[1]、光纤Sagnac干涉仪[2]、光纤Mach-Zehnder干涉仪[3]、长周期光纤光栅[4]等结构实现,但其位移分辨率通常在微米量级。现如今,微纳米加工技术对微小位移测量和控制的要求越来越高。微米量级的控制精度已远不能满足实际需求。
表面等离子体共振(SPR)技术是近现代光学研究的重大成果。SPR对周围介质的折射率有相当高的灵敏度,因此通常被用于设计各种折射率传感器[5-7]。另外,SPR对入射角度也有相当高的灵敏度。基于此特性,近年来设计出一些位移传感器。例如2011年Lin等[8]利用外差干涉法SPR传感技术实现对微小位移的检测。但这种基于空间光路的检测方法不仅体积巨大、操作复杂,而且精度也不高。2016年王雁茹等[9]提出一种基于Otto结构的光纤微位移传感器,虽然精度能够达到纳米量级,但受限于Otto结构的缺陷,这种传感器的位移测量范围极窄。
为了进一步提高微小位移的测量精度,缩小位移检测极限,本文提出了基于Kretschmann结构的SPR微位移光纤传感器。在渐变折射率多模光纤(GIMMF)上加工出Kretschmann结构,用630 nm单模光纤(SMF)将光从渐变折射率多模光纤端面注入,其径向偏移量即为所测位移,利用渐变折射率多模光纤中光束的传播角度会随着入射光位置的变化而变化的特性,以及SPR传感器的共振波长对共振角度变化具有很高的灵敏度的特性,实现对微小位移的精确测量。此外,还研究了光纤研磨角度和光纤传感探针周围介质折射率对位移灵敏度的影响,以进一步提高位移灵敏度。
2 基本原理与仿真
2.1 传感器结构设计
图 2. 渐变折射率多模光纤折射率分布
Fig. 2. Refractive index distribution of the graded-index multimode fiber
在渐变折射率多模光纤中,光束的传播轨迹可以表示为
设光束和光纤轴线的夹角为
由此可见,SPR共振角会随着位移量
2.2 基于MATLAB的数值仿真
该微位移光纤传感器基于Kretschmann结构,其SPR共振光谱可以通过菲涅耳公式计算。通过菲涅耳公式得到的光束经过镀膜表面后的反射率
式中:
利用MATLAB软件,可以将上述公式编程,最终得到共振曲线随位移的变化规律。
2.2.1 渐变折射率多模光纤参数的测量
在进行MATLAB仿真之前,首先需要确定渐变折射率多模光纤的折射率和光束传播周期。将光纤端面切平并处理干净,用光纤折射率分析仪(S14,Photon Kinetics)测量折射率分布,使用的折射率匹配液的折射率
同时,可以测得该光纤的数值孔径为0.28。根据渐变折射率多模光纤的导光特性,可以计算出光束在光纤中传播的周期
2.2.2 金膜厚度对共振曲线的影响
结合(2)~(6)式,通过MATLAB仿真得到不同金膜厚度下的SPR透射光谱,如
图 4. 不同金膜厚度下的SPR透射光谱
Fig. 4. SPR transmission spectra under different thicknesses of gold film
2.2.3 微位移仿真
随后,对于不同位移量
图 5. (a)仿真所得不同位移量产生不同的SPR共振光谱;(b) SPR共振波长随位移量的变化
Fig. 5. (a) SPR transmission spectra under different displacements by simulation; (b) resonance wavelength as a function of displacement
由
(7)式的拟合度
当位移量在25 μm左右(即最大量程附近)时,灵敏度最高,可以达到11.58 nm·μm-1,当光谱仪的分辨率为0.02 nm时,相应的位移分辨率为1.7 nm。
3 探针制备与实验结果
本文提出的微位移光纤传感探针的具体加工步骤如下。
1) 光纤研磨。利用光纤研磨技术对渐变折射率多模光纤和阶跃折射率多模光纤进行研磨,两光纤的包层直径均为125 μm。首先用粗砂纸研磨外形,研磨角度为12°。在光纤研磨过程中,通过CCD实时监测光纤研磨程度,当光纤尖端被研磨到约55 μm时,停止研磨。然后换用抛光砂纸对研磨面抛光2 h,使研磨面足够光滑。
2) 光纤熔接。利用光纤熔融焊接机(FSM-100P)将2根研磨抛光后的光纤熔融焊接。在熔接过程中,需要将2根光纤旋转,使2个研磨面互相平行。然后调节熔接电流和熔接时间,保证2根光纤能够成功熔接,同时在熔接过程中不发生变形。熔接完成后,用光纤切割刀切割光纤,使留下的渐变折射率多模光纤的长度为850 μm,如
3) 镀制金膜。将上述光纤探针放在等离子体溅射仪(JS-1600)中镀制厚度为50 nm的金膜。镀膜方法和具体流程参考文献[ 10]。
图 6. (a)微位移光纤传感探针的显微镜照片;(b)微位移实验系统示意图
Fig. 6. (a) Image of the fiber sensing probe; (b) sketch diagram of the experiment system
镀完金膜后,光纤传感探针已经基本加工完成。将光纤传感探针固定在三维位移平台(Thorlabs公司生产,型号MBT621D/M,精度为1 μm)上,如
图 7. (a)实验所得不同位移量产生不同的SPR共振光谱;(b)SPR共振波长随位移量的变化
Fig. 7. (a) SPR transmission spectra under different displacements by experiment; (b) resonance wavelength as the function of displacement
由
(9)式拟合度
4 分析与讨论
对于本文提出的位移传感器,光纤研磨角和液体的折射率是两个可以控制的变量。为了研究其对该传感器性能的影响,需要用控制变量法进行实验。首先固定光纤研磨角为12°,将液体折射率
图 8. (a)~(c)不同研磨角β和液体折射率n下的光谱变化;(d)仿真与实验的共振波长比较
Fig. 8. (a)~(c) Spectra change under different fiber polishing angles β and different refractive indexes of liquid; (d) comparison between simulated (S) and experimental (E) results of resonance wavelength
由
(11)式的拟合度
图 9. 光纤研磨角为12°、液体折射率为1.350时的共振波长-位移拟合曲线
Fig. 9. Resonance wavelength as a function of displacement when β=12° and n=1.350
表 1. 各类光纤位移传感器参数比较
Table 1. Performance comparison of optical fiber micro-displacement sensors
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5 结论
根据现代工业以及高精密仪器对微小位移的精确测量和控制的要求,提出了基于表面等离子体共振的微位移光纤传感器。分别通过理论仿真和实验测试验证了该传感器的传感性能。并研究分析了不同光纤研磨角和不同液体折射率对传感器性能的影响。实验结果表明:利用表面等离子体共振技术,结合渐变折射率多模光纤中光束以正弦曲线传播的性质,可以很大程度提高位移灵敏度,从而提高位移分辨率。利用这种方法实现的位移分辨率可以达到纳米精度,比其他种类的光纤微位移传感器提高了几十甚至几百倍。
通过增大光纤研磨角度,增大液体折射率,可以进一步提高该传感器的位移分辨率。当光纤研磨角为12°、液体折射率为1.350时,该传感器具有高达10.32 nm·μm-1的位移灵敏度。由于光谱仪的波长分辨率为0.02 nm,该传感器的位移分辨率高达1.9 nm。该微位移传感器的提出了一种高精度微小位移的光学测量方法,在微小位移测量以及微纳米加工等工业领域有很重要的作用。
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