中国激光, 2020, 47 (9): 0910001, 网络出版: 2020-09-16 复制并引用该论文  本文已被引 5 次  被引通知

图 & 表

图 1. 面阵CCD的光电性能测试系统示意图

Fig. 1. Schematic of electro-optical test system of array CCD

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图 2. 面阵CCD图像采集系统的框图

Fig. 2. Block diagram of array CCD image acquisition system

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图 3. 面阵CCD探测器制冷系统的结构示意图

Fig. 3. Schematic of cooling system of array CCD detector

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图 4. 积分球照度的非均匀性测试结果

Fig. 4. Integrating sphere illumination non-uniformity test result

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图 5. 制冷控制结果。(a)温度控制曲线;(b)不同的工作温度

Fig. 5. Refrigeration control results. (a) Temperature control curve; (b) different working temperatures

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图 6. 暗电流与温度的变化关系曲线

Fig. 6. Curves of dark current and temperature

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图 7. 不同工作温度下的QE曲线变化结果

Fig. 7. QE curves change results at different working temperatures

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图 8. 不同工作温度下DPC的QE

Fig. 8. QE of DPC under different working temperatures

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表 1积分球光源的辐射稳定性测试结果

Table1. Radiation stability test results of integrating sphere light source

Wavelength /nm 490 565 670 763 765 865 910 Avarage Stability /% 0.036 0.032 0.049 0.017 0.060 0.047 0.014 0.036

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表 2积分时间精度的测量结果

Table2. Measurement results of integration time accuracy

Requirement /ms 0±0.005 5±0.005 75±0.005 200±0.005 300±0.005 Measurement /ms 0 5.0029 75.0039 200.0032 300.0021

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表 3不同波长下光响应不一致性的测量结果

Table3. Measurement results of inconsistency of light response at different wavelengths

Wavelength /nm 443 490 565 670 763 765 865 910 PRNU /% 2.76 1.88 1.62 2.07 2.36 2.03 2.62 2.73 Manufacturer data /% 2.8(400 nm) - - 2.5(650 nm) - - - 2.8(900 nm) Limits ≤3% ≤5%

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表 4探测器的光电性能参数测试结果

Table4. Photoelectric performance parameter test results of detector

Parameter Unit Result Manufacturer data Limit Systemga DN·electron-1 0.025 - ≤0.049 Saturation gray value DN 3200 - ≥2000 Full well capacity 1×103 electron ·pixel-1 128 120 ≥80 Readout noise electron 2.980 2.9 ≤4 Max signal noise ratio 346 - ≤357 Dark current electron·pixel-1·s-1 1011.776 1118 6 ℃,≤5779.5 Dark signal nonuniformity electron·pixel-1·s-1 20 267 6 ℃,≤578 Defect pixel (white spot, black spot) 0 0 ≤50

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表 5探测器光响应非线性及QE测试结果

Table5. Detector optical response nonlinearity and QE test results

Parameter Wavelength /nm Unit Result Manufacturer data Limit Linearity rrror 443 % 0.73 - ≤1 490 0.23 565 0.40 670 0.30 763 0.62 765 0.19 865 0.15 910 0.30 QE 400 % 57.89 61.8 ≥40 500 89.60 90.7 ≥80 650 87.77 89.5 ≥80 900 27.03 29.6 ≥25

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姚萍萍, 许孙龙, 涂碧海, 于新宇, 崔珊珊, 骆冬根, 洪津. 星载面阵CCD性能测试系统设计及温度影响分析[J]. 中国激光, 2020, 47(9): 0910001. Yao Pingping, Xu Sunlong, Tu Bihai, Yu Xinyu, Cui Shanshan, Luo Donggen, Hong Jin. Design of Performance Test System and Analysis of Temperature Dependence for Space-Borne Array CCD[J]. Chinese Journal of Lasers, 2020, 47(9): 0910001.