激光与光电子学进展, 1989, 26 (10): 42, 网络出版: 2013-06-21
用激光测量薄膜
摘要
洛斯·阿拉莫斯国家实验室研究人员正利用二次谐波技术来研究金属表面的化学和微结构。虽然科学家们一般时间以前就知道，在理想情况下，激光束的99%由反射镜状的光滑表面反射，但直到最近才、发现，当用一束很亮的激光束时，极小量光一小于千万亿分之一——以倍频形式被表面反射，这个倍频即二次谐波，使远距离分析金属界面的薄膜生长及特性变得更加准确、实时。
Abstract
参考文献
孙桂林. 用激光测量薄膜[J]. 激光与光电子学进展, 1989, 26(10): 42. 孙桂林. [J]. Laser & Optoelectronics Progress, 1989, 26(10): 42.
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