光学学报, 2014, 34 (2): 0231001, 网络出版: 2014-01-23
栅格式透明导电膜透光性能的表征和测试方法
Method of Characterizing and Testing the Optical Performance of Metal Grid Transparent Conductive Films
基本信息
| DOI: | 10.3788/aos201434.0231001 |
| 中图分类号: | O484.4+1 |
| 栏目: | 薄膜 |
| 项目基金: | 北京市教育委员会市属学校创新能力提升计划项目(TJSHG201310015016)、北京印刷学院印刷电子材料与应用技术创新团队资助项目 |
| 收稿日期: | 2013-08-26 |
| 修改稿日期: | 2013-09-22 |
| 网络出版日期: | 2014-01-23 |
| 通讯作者: | 徐艳芳 (xuyanfang63@163.com) |
| 备注: | -- |
徐艳芳, 李修, 刘伟, 冉军, 李路海. 栅格式透明导电膜透光性能的表征和测试方法[J]. 光学学报, 2014, 34(2): 0231001. Xu Yanfang, Li Xiu, Liu Wei, Ran Jun, Li Luhai. Method of Characterizing and Testing the Optical Performance of Metal Grid Transparent Conductive Films[J]. Acta Optica Sinica, 2014, 34(2): 0231001.
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