为了提高氧化锌光致发光强度, 以磁控溅射氧化锌/银复合薄膜为研究对象, 系统地研究了氧化锌薄膜的光学性质。实验中首先在硅衬底上用射频磁控溅射的方法沉积氧化锌/银复合薄膜, 作为对比, 同时沉积了一层氧化锌薄膜。通过扫描电子显微镜和原子力显微镜对样品的形貌及成份进行表征, 并且在室温下测试样品在300~800 nm波长范围内的光致发光光谱。实验结果表明: 所制得样品为均匀分布的氧化锌纳米薄膜, 纯氧化锌光致发光光谱结果显示有波长位于378 nm 左右的紫光、470 nm 左右的蓝色发光峰存在, 加入银薄膜后, 氧化锌可见光区和紫外光区的光致发光光谱强度均有所增强, 而且紫外光峰位出现了红移。实验结果结合样品吸收谱对光致发光机理的分析作了进一步的分析。

建立了栅格式透明导电膜透光性能的表征参量和测试方法。利用电荷耦合器件(CCD)光电成像设备的响应特性，将响应信号转换为透光率信息；求解出不同尺度面元上的平均透光率，并建立栅格线的印制宽度、线边缘粗糙度和线上平均透光率等参量；结合三维图示技术，对透光膜进行了像素级微观透光性的三维显示。对三个柔印正方形栅格透明导电膜样品的测试结果表明：由所建立方法得到的透光率与紫外分光光度计测试结果误差小于1%；由测量的栅格线宽、透光率及像素级微观透光特性，能够分析样品的透光及印刷工艺特征。所建立方法能够起到较详尽分析和表征栅格式透明导电膜光学性能的作用。

提出了一种YAG荧光粉在实用蓝光激发下发射光谱测量的新方法。 通过采用高斯函数和费米函数拟合及模拟退火优化技术, 得到了混合发光光谱的数学拟合函数, 从而分离出荧光粉的发射光谱, 进一步表征其发光性能。 实验样品的测量结果表明, 与简单的截切分离方法比较, 具有不可忽略的光度量和色度量差异。 量子效率、 发光效率和能量效率等光度量的差异均高于1%, 相关色温相差达几十K, 色品坐标、 主波长和色纯度等色品指标也产生差异, 但半峰带宽变化不大, 荧光发光的峰值波长则基本不受影响。 实验结果表明, 所建立方法能够提高实用条件下YAG黄色荧光粉发射光谱的测量准确性。

研究了不同切割方式下 CLBO晶体四倍频光反射损失情况, 同时给出了激光倍频晶体实现减反射的优化布氏切割方法。对于非线性晶体来说, 适用于激光晶体的布氏切割方法已经不能达到减反射的目的, 这是由于光通过激光晶体后没有新频率产生, 不改变光的偏振状态, 而经过非线性晶体后却有新频率的激光产生, 而这种新产生频率的振动状态与入射光的振动状态总不相同, 这是由相位匹配条件和偏振匹配条件共同决定的, 因而以布儒斯特角将两通光面平行切割的方法不再适合于此类晶体中。通过分析还得出, 采取两通光面以互相垂直的布氏角切割晶体, 可以达到对紫外光减反射的目的。