中国激光, 1991, 18 (2): 88, 网络出版: 2007-11-12   

X射线平晶谱仪色散曲线和波长的确定

Dispersion curve and wavelength determination in flat-crystal X-ray spectrograph
作者单位
中国科学院上海光机所, 上海 201800
摘要
本文给出了X射线平晶谱仪色散曲线几种解析表达式,它们形式不同,但完全等价。提出了几种独立测定激光等离子体X射线波长的方法,这些方法无需任何参考谱线或谱仪参数。
Abstract
Four analytical expressions, different in form but equivalent to each other, of flat-crystal X-ray spectrograph are presented. Several methods of wavelength determination without reference wavelengths are proposed.

范品忠, 张正泉. X射线平晶谱仪色散曲线和波长的确定[J]. 中国激光, 1991, 18(2): 88. 范品忠, 张正泉. Dispersion curve and wavelength determination in flat-crystal X-ray spectrograph[J]. Chinese Journal of Lasers, 1991, 18(2): 88.

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