This paper describes the elliptical crystal spectrograph(ECS)which is used to investigate X-ray spectroscopy of laser-produced plasmas.The spectrometer was calibrated for experiments on“Shenguang lI”X laser target chamber.The K-shell and M-shell emission lines of laser-produced plasma were measured by the space-resolved spectrometer.Some X-ray spectral lines were obtained through studying and classifying photographs of spectra recorded by X-ray CCD camera. The measured spectral resolution of spectrograph was given.The focusing spectrometer based on the ECS provides high spectral resolution and spatial reso1ution as well as high luminosity(high collection efficiency).Possible applications of the ECS are demonstrated.

描述了用于激光等离子体X射线光谱研究的椭圆弯曲晶体谱仪系统。在“神光Ⅱ”第九路激光上对该谱仪进行标定实验，刺用CCD相机成功地获得了激光等离子体铝和钛离子的K壳层和金离子M壳层谱；通过研究和辨认谱线，得到了X射线光谱，同时还给出了实验测定的谱仪分辨率。椭圆弯曲晶体谱仪除有高的收集光子效率外，还有更好的谱分辨和空间分辨率。分析了椭圆弯曲晶体谱仪在前沿科学技术和高技术实验中的应用。

采用20 μm的狭缝配平面晶体谱仪构成空间分辨光谱测量系统,对Al激光等离子体的K壳层发射谱进行测量.利用Al的Ly-α线谱的翼部Stark展宽效应推得电子密度空间分布轮廓,建立了翼部Stark展宽法测量高密度等离子体电子密度的诊断技术.

将门控分幅相机与平面晶体谱仪耦合,构成时间分辨光谱测量系统,对Al激光等离子体的K壳层发射谱进行测量,获得了相对入射激光延迟约1ns,积累时间约200ps的光谱信号.利用稳态碰撞 辐射平衡(CRE)近似条件下的等离子体光谱辐射动力学模型,给出了Al激光等离子体Ly-β线与He-β线强度比以及Ly-γ线与He-γ线强度比与电子温度的函数关系.在此基础上,根据实验谱线强度比,得到激光强度为2.319×10¹⁴,1.937×10¹⁴和3.946×10¹⁴W/cm²时,等离子体冕区电子温度分别为1.190(1±27%),1.165(1±27%)和1.525(1±27%)keV.

提出一种简便的新方法用以实现X射线平晶谱仪谱线波长的直接标定，只需在谱仪晶体表面加上一个特制的辅助光阑，即可在不知光源位置和没有任何参考谱线的情况下精确标定谱线的波长。

描述了用于激光等离子体软Ｘ射线光谱学研究的长波晶体谱仪。用具有大晶格常数的晶体(PHM，2d=6.35 nm)，极薄的滤片和对软X射线灵敏的底片，获得了波长达5.8 nm的激光等离子体软Ｘ射线光谱。同时还给出了实验测定的谱仪光谱分辨率。

指出了文献[1]在物理概念上和公式推导中的错误,并在订正了这些错误之后,考虑了实际的激光等离子体光源的几何尺度和线状等离子体的安排,对在复合泵浦X激光增益实验中所使用的带超环面镜X光中继元件的掠入射光栅光谱仪系统进行了全面的模拟计算.结果表明,作者所使用的带超环面镜的X光增益测试系统,其因离焦而导致的非线性效应是完全可以忽略的,系统的空间分辨能力的下降也是非常小的,从而否定了文献[1]中的结论,表明作者在X激光增益测量实验中所使用的带超环面镜X光中继元件的掠入射光栅光谱仪系统是完全可靠的.

本文给出了X射线平晶谱仪色散曲线几种解析表达式,它们形式不同,但完全等价。提出了几种独立测定激光等离子体X射线波长的方法,这些方法无需任何参考谱线或谱仪参数。