发光学报, 2018, 39 (7): 942, 网络出版: 2018-08-30
MBE法制备VO2薄膜及其中红外调制深度测量
VO2 Thin Films Prepared by MBE and Measurements of Mid-infrared Modulation Depth
基本信息
DOI: | 10.3788/fgxb20183907.0942 |
中图分类号: | O434.14 |
栏目: | 材料合成及性能 |
项目基金: | 脉冲功率激光技术国家重点实验室主任基金(SKL2013ZR03)资助项目 |
收稿日期: | 2017-09-26 |
修改稿日期: | 2017-11-24 |
网络出版日期: | 2018-08-30 |
通讯作者: | 路远 (luyuanmail@163.com) |
备注: | -- |
刘志伟, 路远, 侯典心, 邹崇文. MBE法制备VO2薄膜及其中红外调制深度测量[J]. 发光学报, 2018, 39(7): 942. LIU Zhi-wei, LU Yuan, HOU Dian-xin, ZOU Chong-wen. VO2 Thin Films Prepared by MBE and Measurements of Mid-infrared Modulation Depth[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2018, 39(7): 942.