一种利用半反半透透镜检验二次非球面的方法

赵鹏玮; 叶璐; 胡文琦; 郑列华

doi:doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2019.03.005

量子电子学报, 2019, 36 (3): 284, 网络出版: 2019-06-17

一种利用半反半透透镜检验二次非球面的方法

Test Method of conic aspheric surface with semi-transmitting lens

赵鹏玮 ^1,2,*叶璐 ¹胡文琦 ¹郑列华 ¹

作者单位

¹ 中国科学院上海技术物理研究所, 上海 200083

² 中国科学院大学, 北京 100049

基本信息

DOI:	10.3969/j.issn.1007-5461.2019.03.005
中图分类号:	O435.2
栏目:	基础光学
项目基金:	--
收稿日期:	2018-05-09
修改稿日期:	2018-07-02
网络出版日期:	2019-06-17
通讯作者:	赵鹏玮 (zhao12pengwei@163.com)
备注:	--

赵鹏玮, 叶璐, 胡文琦, 郑列华. 一种利用半反半透透镜检验二次非球面的方法[J]. 量子电子学报, 2019, 36(3): 284. ZHAOPengwei, YE Lu, HU Wenqi, ZHENG Liehua. Test Method of conic aspheric surface with semi-transmitting lens[J]. Chinese Journal of Quantum Electronics, 2019, 36(3): 284.