强激光与粒子束, 2016, 28 (12): 124102, 网络出版: 2016-12-26
航空高度FPGA单粒子翻转飞行实验及失效分析
Flight experiments and failure analysis of FPGA for anti-SEU at aviation altitudes
单粒子翻转 机载电子 抗辐射 飞行实验 失效分析 single event upset airborne electronics radiation hardening flight experiment failure analysis
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