以中心位置携带孔缝的机载电子设备屏蔽腔体为研究对象, 建立能够计算平面波辐照下腔体屏蔽效能的BLT(Baum-Liu-Tesche)方程。针对Robinson孔阵阻抗计算误差较大这一问题, 引入偏心系数Cmk修正孔阵阻抗, 修正后BLT方程能准确计算开有任意位置孔阵腔体的屏蔽效能。通过对电磁波电场进行矢量分解, 实现了任意极化角度下屏蔽腔体屏蔽效能的计算。结果表明, 屏蔽腔体屏蔽效能随孔缝数量的增加而升高, 极化角度的增大会增强屏蔽腔体电磁屏蔽能力。将BLT方程计算结果与Robinson法结果、CST仿真结果进行对比, 证明BLT方程具有准确性, 为计算机载电子设备屏蔽腔体屏蔽效能提供了一种有效方法。

针对机载电子对抗系统外场使用保障数据具有大样本、随机截尾以及数据来源多等特点，提出一种基于外场使用保障数据的电子对抗系统可靠性持续评价方法。首先，分析了机载电子对抗系统可靠性持续评价步骤; 其次，给出外场使用保障数据的收集、分析与核查方法; 然后，构建基于使用保障数据的设备级和系统级可靠性评估模型; 最后，结合某电子对抗系统实例分析，验证所提方法的正确性。

复杂电磁环境下的机载电子设备安全性设计主要解决 ①电磁环境通过感应或耦合等方式可能造成机载电子设备工作混乱摘而导致安全性问题 ②在机载电子设备保持正常工作状态下，电磁环境通过感应或耦合等方式形成的感应电压或感应电流达到或超过机载电子设备相关性能指标引起“非正常动作”而导致的安全性问题。通过介绍一种典型机载电子设备在复杂电磁环境下的电磁安全性设计情况，表明机载电子设备开展电磁环境安全性设计的重要性和必要性。

机载电子硬件承担的系统功能越来越多, 基于成本考虑, 使用COTS IP成为一种趋势, 也为适航审定带来挑战。首先分析了COTS IP在机载电子硬件设计中的使用位置及带来的风险, 研究了当前适航审查需求, 然后依据局方文件和审定经验提出了建议的评估过程, 并总结适航审查要素。研究成果有助于解决COTS IP的适航审定问题, 为现有机载电子硬件设计保证方法提供参考。

提高屏蔽腔体的屏蔽效能可增强民用航空机载电子系统的高强辐射场(HIRF)防护能力。基于Robinson模型, 提出一种可计算带有非中心孔阵金属屏蔽腔体屏蔽效能的修正模型。选用民航机载通信设备作为研究对象, 运用修正模型计算其屏蔽效能, 与三维电磁仿真软件的结果对比验证了所提模型的正确性。此外, 通过软件仿真分析了HIRF作用下不同孔阵、频率、位置对设备内部电场分布的影响。仿真结果可为民航机载电子设备的屏蔽壳体设计以及内部敏感器件布局提供参考。

A类紧定装置是机载电子设备普遍采用的安装紧固结构装置，在使用过程中经常出现紧固不牢和松动等问题，影响机载电子设备的安装可靠性。利用受力解析和零件接触面形貌分析，研究了A类紧定装置的工作过程和作用机理，分析了影响A类紧定装置紧固性能的因素，提出了减小预紧力耗损、改进安装角度和减小机构间隙等设计改进措施。仿真计算和实物试验结果表明：改进措施能够有效增加机载电子设备结构刚度和强度，提高设备安装可靠性。

阐述了冗余控制的概念和类型。针对冗余控制原理提出了一种机载电子设备冗余设计方法, 包括硬冗余设计方法和软冗余设计方法, 并分别对硬冗余和软冗余的工作原理进行了详细叙述。最后, 对采用冗余设计的电子设备的可靠性进行了分析。结果表明, 冗余设计方法能明显提升电子设备的任务可靠性, 应用于机载电子设备, 能适应机载电子设备高可靠性的作战要求。

为了抑制计算机系统软件和硬件可能发生的共模故障，在余度技术的基础上，分析了非相似余度技术及其采用的余度结构和余度数量。分别从硬件架构设计、软件架构设计及热备份切换逻辑等方面详细论述了一种非相似双余度告警计算机的设计和实现方法，并且使用故障树模型分析方法在实验数据的基础上对该系统的可靠性进行了分析和计算。结果表明,采用非相似双余度技术可以有效地抑制系统的软件和硬件可能发生的共模故障，将机载告警计算机系统的可靠性提高到0.999 97。

随着微电子工艺的发展, 小尺寸、高密度及低电压的器件越来越多地应用于航空电子设备。许多科研人员发现高层大气及外太空的带电粒子带来的粒子辐射会对航空电子器件产生严重的影响。基于民用航空局方的要求, 鉴于机载设备对单粒子翻转效应的隐患以及航空机载设备国产化的迫切需求, 开展FPGA器件用于机载电子设备可能遭遇的单粒子翻转效应的风险问题研究。分析了主流FPGA在航空飞行高度的飞行实验数据, 进一步论证其是否满足民用航空的需求。大量数据的分析结果证明, 以当下主流FPGA芯片的工艺尺寸、工作电压的条件, 单粒子翻转效应是一个不容忽视的问题。即便是航空飞行高度甚至是地面高度, FPGA芯片因单粒子翻转导致失效也是无法满足民用航空设备的安全性要求。