半导体光电, 2017, 38 (4): 515, 网络出版: 2017-08-30
基于EMVA1288标准的图像传感器辐照效应参数测试系统的研制
Development of Image Sensor Radiation Effect Parameters Testing System Based on EMVA1288 Standard
基本信息
DOI: | 10.16818/j.issn1001-5868.2017.04.011 |
中图分类号: | TN386.5 |
栏目: | 光电器件 |
项目基金: | 国家自然科学基金青年基金项目(11235008, 11305126) |
收稿日期: | 2016-11-24 |
修改稿日期: | -- |
网络出版日期: | 2017-08-30 |
通讯作者: | 王祖军 (wangzujun@nint.ac.cn) |
备注: | -- |
王祖军, 薛院院, 姚志斌, 马武英, 何宝平, 刘敏波, 盛江坤. 基于EMVA1288标准的图像传感器辐照效应参数测试系统的研制[J]. 半导体光电, 2017, 38(4): 515. WANG Zujun, XUE Yuanyuan, YAO Zhibin, MA Wuying, HE Baoping, LIU Minbo, SHENG Jiangkun. Development of Image Sensor Radiation Effect Parameters Testing System Based on EMVA1288 Standard[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2017, 38(4): 515.