作者单位
摘要
长春工业大学 机电工程学院,长春 130012
针对纳米压印过程中压印胶填充率低导致图案转移质量不佳,压印力过大损坏模板表面形貌等问题,提出一种基于压电驱动低频、低幅的振动辅助纳米压印方法制备光栅结构。在压印时施加横向一维振动,减小纳米压印过程中所需的压印力,提高压印胶对模板空腔的填充率。为研究双面光栅薄膜的周期变化对透射率的影响规律,运用时域有限差分法在波长500~1 500 nm范围内对不同周期参数的双面光栅结构进行仿真分析,得到周期参数变化对透射率的影响规律。在研制的振动装置上进行振动辅助纳米压印实验,并对制备出的双面光栅结构进行表面形貌表征以及透射率检测。实验结果表明,与无振动纳米压印技术相比,压印胶填充率显著提高,并改善了图案转移质量,减少大面积表面缺陷。在波长500~1 500 nm范围内,涂覆振动辅助纳米压印制备的双面光栅薄膜的SiO2比传统纳米压印制备的双面光栅薄膜的SiO2平均透射率提高4%,较无薄膜的SiO2平均透射率提高6%。
纳米压印 光栅结构 振动辅助 薄膜 填充率 透射率 Nanoimprint lithography Grating structure Vibration-assisted Film Filling rate Transmittance 
光子学报
2022, 51(6): 0631002
作者单位
摘要
长春工业大学 机电工程学院, 长春 130012
为校正长波红外探测器辐射响应非均匀性, 抑制非线性和随时间漂移, 提出了一种基于分段两点校正法和局部恒定统计的校正方法. 首先, 对非均匀性噪声建模, 利用分段两点校正法进行粗校正; 其次, 利用绝对偏差中值法剔除异常像素, 并迭代累加得到均值图像; 最后, 对均值图像滤波, 求得校正系数矩阵并对图像精校正. 搭建了原理样机, 进行了两次实验室标定实验和一次外场实验. 实验结果表明: 本文方法可以将黑体图像标准差从2.75降低至2.26, 将外场图像粗糙度从1.47×10-2降低至1.03×10-2. 本文方法复杂度低、鲁棒性强、精度高, 可以有效去除非均匀性噪声.
红外焦平面阵列 非均匀性校正 辐射响应 标定 Infrared focal plane array Non-uniformity correction Radiation response Calibration 
光子学报
2019, 48(6): 0604002
作者单位
摘要
长春工业大学 机电工程学院, 长春 130012
为了校正长波红外探测器辐射响应非均匀性, 提出了一种基于相邻像素统计一致性的非均匀性校正方法.首先, 对探测器辐射响应非均匀性建模; 然后, 利用均值算子估计相邻像素之间的比值, 并递推求解校正系数; 最后, 搭建了原理样机对多种不同场景成像.实验结果表明: 与基于黑体的标定方法相比, 利用本文方法校正后的图像粗糙度由1.27×10-2降低至1.13×10-2, 局部标准差峰值由10.5降低至3.5, 可以有效降低红外探测器非均匀性噪声.
光电探测 非均匀性校正 相邻像素统计特性 红外焦平面阵列 相对辐射定标 Photoelectric detection Non-uniformity correction Statistics of adjacent pixels Infrared focal plane array Relative radiometric calibration 
光子学报
2018, 47(7): 0710002
作者单位
摘要
长春工业大学机电工程学院, 吉林 长春 130012
条带噪声影响高光谱图像(HSIs)的质量,降低后续数据分析算法的精度和稳健性。分析了HSIs中条带噪声的特点,即条带噪声具有方向性和各谱段噪声具有不同强度,提出了一种基于自适应单向变分的条带噪声去除方法。在单向变分模型的基础上,引入含有耦合项的能量函数,并利用梯度下降法迭代求得最优解。实验结果表明,实际HSIs平均等效视数从26.49提高到85.61,平均辐射质量提升因子提高到9.34 dB。与传统方法相比,该方法能够根据不同谱段噪声强度自适应调整正则参数的大小,有效地去除各谱段中的条带噪声,避免细节信息丢失,图像质量得到了改善。
图像处理 条带噪声 单向变分 高光谱图像 
激光与光电子学进展
2016, 53(9): 091002

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