提出一种新型的颗粒测量方法,基于Mie散射理论,从另一独特的视角接收大角度的侧向散射光,并建立新的理论模型,可使测量下限扩展,技术要求有所改善。结合目前已经成熟的半导体激光和CCD技术,运用此原理可使颗粒测量仪器向更轻便、灵敏发展。
Mie散射 侧向散射 粒径分布 条形阵列光敏二极管
基于Mie光散射理论,提出一种用多波长消光原理(light extinction)测量大颗粒的尺寸分布的方法.理论分析及计算机数值模拟表明,采用可见光波段的多波长消光法可将测粒上限扩展至300μm以上.文中给出了数值模拟结果和对几种大尺寸标准颗粒的实测结果.
大颗粒 尺寸分布 消光法
