作者单位
摘要
1 内江师范学院物理与电子信息工程学院,四川 内江 641112
2 西南民族大学电气信息工程学院,四川 成都 610041
3 绵阳师范学院物理与电子工程学院,四川 绵阳 621000
采用晶体场理论和3d9电子组态在平面四角晶场中的g因子和超精细结构常数A的三阶微扰计算公式以及 CdCl2 :Cu2 + 晶体的局域结构与 EPR 谱之间的定量关系,合理解释了 CdCl2 :Cu2 + 晶体的 EPR 谱及局域晶体结构, 所得 EPR 参量与实验观测相符合。研究发现芯极化常数约为0.2827。平面四角键长的变化约为 0.013 nm。因此,CdCl2 晶体中掺杂Cu2 + 后,由于静态 Jahn-Teller 效应引起的晶格驰豫,导致晶格在平面四角内发生了 略微伸长的畸变。
光谱学 电子顺磁共振 晶体场理论 掺铜氯化镉 spectroscopy electron paramagnetic resonance crystal-field theory CdCl2:Cu2+ 
量子电子学报
2010, 27(6): 665

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