作者单位
摘要
中国科学院上海光学精密机械研究所, 上海 201800
在研究了激光光束质量因子M2理论及测量技术[1]基础上,作者提出一种新的用干涉测量光束质量因子M2的理论、技术与方法。文中概述了该技术的理论基础、实验结果及误差分析。结果表明,该方法具有精度高,适用性强,测量简便等优点,有可能进一步仪器化并推广应用。
光束质量因子M2 剪切干涉 
光学学报
1995, 15(5): 623

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