作者单位
摘要
1 国防科技大学 空天科学学院,湖南 长沙 410003
2 中国科学院西安光学精密机械研究所,陕西 西安 710119
为了在空间限制严格的条件下,实现远距离、双波段、摆扫成像要求,采用双波段折反缩束镜、双快反镜及紧凑的单波段透镜后组,并通过优化设计,建立了一种紧凑型双波段摆扫成像光学系统。其中,双波段折反缩束镜由RC系统、CAF2分色棱镜、及单波段透镜组组成,分别在0.6~0.9 μm及3.6~4.9 μm波段取得接近衍射极限的像质,且摆扫成像像移均控制在半个像元以内。该双波段系统中,主次镜间无透镜,可见光系统焦距为1752 mm,光学系统三维尺寸为380 mm (轴向)×Φ360,远摄比达到0.22,线遮拦比为0.34。在无遮光罩的前提下,仿真分析表明,入射角大于30°时,红外PST均小于1×10−4。且该系统加工及装调工艺成熟可控,成本较低。
摆扫成像 CAF2分色棱镜 紧凑光学设计 红外冷反射及杂光分析 whisking broom imaging CaF2 dichroic prism compact optical design nacisis and stray light analysis of the infrared 
红外与激光工程
2021, 50(8): 20200517
作者单位
摘要
中国科学院 西安光学精密机械研究所,陕西 西安 710119
采用CCD显微成像系统对光学系统弥散斑参数进行定量测量,并设计了弥散斑参数的评价算法。首先,给出了弥散斑参数的定义,分析了弥散斑所形成的能量等高线构成的闭合的连通区域,对占总能量80%的区域计算其弥散斑直径。然后,对该区域的边界点进行椭圆拟合,得到弥散斑圆度。提出的方法通过对光学系统在像平面所成的星点像的能量分布的分析,在弥散斑圆度测试中引入了椭圆拟合,减少了CCD噪声和测试环境中的杂光等随机因素对测试结果的影响,提高了测试结果的置信度。实验结果显示: 弥散斑直径测试重复性为0.18 μm,弥散斑圆度测试重复性为1.65%。提出的方法实现了弥散斑参数的定量测试,满足航天项目中光学系统成像质量控制要求。
光学系统 弥散斑参数、CCD显微测量系统、能量等高线、区域填充 optical system defocused spot parameter CCD microscopic system energy contour region filling ellipse fitting 
光学 精密工程
2015, 23(9): 2482

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