强激光与粒子束
2022, 34(10): 104010
1 清华大学 工程物理系, 北京 100084
2 西北核技术研究所, 西安 710024
介绍了叠片法测量脉冲X射线源焦斑的原理。对确定结构和尺寸的金属、薄膜叠片及测试系统布局, 数值计算了叠片法的空间分辨及对均匀分布线光源的输出响应, 得到响应曲线半高宽与焦斑尺寸的对应关系。计算结果表明, 叠片法不适用于测量小于2 mm的焦斑。在感应电压叠加器上开展了阳极杆箍缩二极管实验, 采用叠片法测量二极管X射线源轴向焦斑, 与针孔照相结果基本相符, 说明叠片法可用于脉冲X射线源焦斑尺寸测量。
叠片法 焦斑尺寸 脉冲X射线源 空间分辨 针孔照相 阳极杆箍缩二极管 lamination method spot size pulsed X-ray source spatial resolution pinhole photography rod-pinch diode 强激光与粒子束
2010, 22(12): 3057
