红外探测器光学元件表面疵病、污染可能会降低系统的探测性能。杜瓦中窗片、滤光片表面存在不同程度的麻点、划痕，采用光学仿真软件LightTools计算分析光学元件表面不同疵病等级情况下的光学参数，引入杂散辐射系数和信杂比的概念对杜瓦光学特性进行评估，合理判断光学元件的表面疵病容限。同时仿真分析滤光片位置造成的表面疵病对杜瓦光学特性的影响。结果表明：随着窗片、滤光片表面疵病等级增加，接收像面非均匀性增加、信号强度减弱，且在相同疵病等级情况下，滤光片与芯片距离越近，疵病对杜瓦光学特性影响越大，因此在杜瓦设计时必须严格控制光学元件表面疵病容限，并合理设置滤光片封装位置。
光学元件表面疵病 杜瓦光学特性 疵病容限 optical element surface defects Dewar optical characteristics defect tolerance 红外与激光工程
2020, 49(S1): 20200113
红外带通滤光片是决定红外探测器组件光谱响应范围的重要元件。滤光片光谱的截止波长在低温下会产生漂移, 从而影响组件的光谱响应范围。为探究滤光片在低温下的光谱漂移情况, 选取了几种典型的红外带通滤光片, 并分别在常温和77 K温度下使用自制的低温光谱测试杜瓦对其进行了光谱测试。结果表明, 低温下滤光片的前截止波长均向短波方向漂移。该漂移量的大小主要与工作波段有关。工作波长越长, 漂移量越大。中波红外带通滤光片的截止波长在低温下的漂移量小于100 nm。基片材料对截止波长漂移的影响较小。该结论对于红外探测器滤光片的光谱设计具有重要的参考价值。
红外 带通滤光片 低温 光谱漂移 infrared band-pass filter low temperature spectrum drift
