作者单位
摘要
深圳大学 电子科学与技术学院,广东 深圳 518060
在基于4f 结构的平面集成光电混合相关器系统中,由于采用折叠光路结构,增大了像差,降低了系统的识别能力。通过对平面集成光学相关器的结构分析,利用斜入射坐标理论,确定系统中微光学透镜的相位调制函数。对微光学透镜元件的相位函数进行分析,用Zemax软件优化系统以降低系统的像差,从而提高识别能力。通过分析像质评价图,得到优化后的系统最大光程差小于λ/4,达到了衍射极限。用Matlab软件对优化前后的系统进行对比量化分析,优化后系统的识别能力提高了约0.8倍。表明优化后的像差得到了很好的改善,系统的识别能力有了明显的提高。
光学模式识别 结构优化 像质评价 像差分析 二元光学 
光学学报
2010, 30(4): 1002

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