为实现在高功率激光装置中对平面反射镜反射率的高精度测量, 提出了将双光束分光光度法与VW测量法相结合, 利用扩束后的测量光束测量被测元件的反射率。推导了计算公式, 搭建了测量光束口径为50mm的检测系统, 通过对标准吸收玻璃吸收值的测试验证了系统对光束能量测试的准确性。利用该系统对高功率激光装置使用的反射镜的反射率进行了测量, 并将其测量结果与用lambda900分光光度计测量的结果进行了比对。结果表明: 该方法的测量精度优于0.1%。

光学均匀性是光学材料的重要指标,直接影响到透射光学系统的波面质量,改变系统的波相差.惯性约束聚变(Inertial Confine Fusion,ICF)激光驱动器的研制要求对材料的光学均匀性进行高精度的检测,同时兼顾洁净度要求.实验中利用斐索干涉仪实现了大口径光学材料光学均匀性的检测,并与国外检测数据进行了对比,对检测过程中的影响因素主要包括样品的厚度测量偏差及折射系数偏差进行了分析.结果表明,样品的厚度测量偏差及折射系数偏差对结果的影响较小,可以忽略.同时用两种干涉仪专用软件对大量样品测量数据进行处理,对比了不同干涉仪光学均匀性的计算结果,表明这两种情况下对光学均匀性的处理结果相符,解决了大口径光学坯件光学均匀性的检测问题.

研究腔靶辐射温度和X光耦合效率与靶结构及激光辐照条件的依赖关系。利用神光-Ⅱ基频光(波长1.053 μm,能量3～5 kJ/8束,脉宽0.6～0.9 ns)辐照金腔靶。采用软X光能谱仪及平响应探测器分别测量腔靶诊断口辐射X光功率谱及其能量角分布。同时,利用五针孔时、空分辨成像技术对腔靶诊断口发射软X光进行实验观测,给出辐射温度推算中需要的等效诊断口面积修正因子。在北京同步辐射软X光标定站,对上述诊断用软X光探测元器件进行了全谱范围(0.05～1.5 keV)的绝对标定,以提高X光辐射功率和黑腔辐射温度的诊断精度。

在"星光Ⅱ"激光装置上,利用三倍频激光辐照双盘靶,采用两台软X光谱仪分别对初级和次级辐射的X光进行测量,研究X光谱在次级得到改造的特性,并对实验结果进行简单的物理分析.实验表明,次级辐射的X光谱与初级的X光谱相比得到了软化.采用X光条纹相机测量双盘靶等离子体喷射的时空扫描图像,结果说明,由于双盘距离较近,初、次级喷射的等离子体发生了碰撞.