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实验技术与元件
用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数
袁树忠 潘家齐 吕福云 范万德 李献元 
作者单位
摘要
南开大学现代光学研究所国家教委光学信息技术科学开放实验室,天津 300071
描述了用超短光脉冲测量微波器件Ｓ参数的基本原理和建立的测量系统。用该系统测量了频率高达36 GHz器件的S参数, 并同网络分析仪的测量结果进行了比较, 一致性很好。该系统测量频率可达100 GHz。
超短光脉冲 光导开关 S参数 
PDF全文 Full Text
中国激光
1998, 25(6): 495
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