为了提高消光比测试系统的测试精确度，利用偏振干涉原理研究设计了一种用于此系统的衰减器，并对它的工作机理进行了详细分析。此衰减器主要包括3个偏光棱镜，1个λ／4波片(632．8nm)，两个步近电机。它可以对光强度进行连续调节，其调节范围在0～60dB之间，插入损耗小于1．5dB，消除了以往更换固定衰减量的衰减器带来的误差。此光衰减器用在高消光比测试系统中可以得到优于10^－7量级的消光比，它不仅可以用于高消光比测试系统，同样可用于其它光学测试系统。当用消色差波片代替λ／4波片时，它能对多种波长的光进行衰减，扩大测试系统对光谱区的使用范围。

通过对菱体型延迟器件进行优化设计，能够改善其消色差性。根据光在介质表面全反射时发生相变这一原理，分析了一个具有3个全内反射面的菱体型延迟器件，得出了相位延迟δ与全内反射角θ和相位延迟δ与介质折射率n的关系。通过对δ与θ和δ与n的关系分析，显示了扩大材料选择范围的可行性。结果表明，较大的全内反射角的选择有利于改善延迟器件的消色差性。

针对普通滤光片通常采用不多于3片组合方式，不能满足特殊测量范围要求的情况，利用单轴晶体的双折射效应及偏光干涉原理来研究双折射滤光片的滤光原理及其参数特性，在综合考虑各种参数的前提下，应用近似理论条件，研究设计了4片组合的石英晶体双折射滤光片，分析了设计滤光片所需要的各个参数，给出了4片组合双折射滤光片的透射曲线。此双折射滤光片的透射光谱具有透射带宽得到很大压窄、次峰的透过率被抑制在8%以下等特点。当它被用在脉冲激光器中时，具有550nm至1200nm的宽调谐范围。可以知道，设计滤光片的关键是各个参数的选取，利用法布里－珀罗干涉仪可以压窄光谱线宽。

介绍了波片的相位延迟量随温度的变化行为,并提出一种测量相位延迟量的方法。由于温度的变化会对波片的相位延迟量产生影响,从而影响波片的使用精确度,为减小此影响,提高波片在不同温度下的使用精确度,需要对波片的特性进行分析。理论和数值地分析了石英波片的温度特性,得到石英波片的折射率温度系数和热膨胀系数的关系及折射率温度系数与波长的关系,为正确设计和使用波片提供参数选择依据。一块厚约1.8 mm的波片,对应波长632.8 nm,温度每升高1 ℃,其延迟量约减少1°。针对石英波片在不同温度下使用时的不足之处,提出一种测量方法(即电光调制法)用来测量波片的相位延迟量,当信号电压控制在±700 V时,其延迟测量精度可控制在1%以内。