作者单位
摘要
昆明物理研究所,云南 昆明 650223
采用辉光放电质谱(GD-MS)对碲、镉原材料中锂、硼、钠、铝、硅、铁、铜、锌、镓、砷、银、金、铅、铀等62 个杂质元素进行了测试,并与激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)所测的结果进行比较,对结果差异的潜在因素、个别元素含量异常偏大的原因进行了系统分析,着重论述VG9000 辉光放电质谱仪的特点及痕量杂质分析优势。
辉光放电质谱(GD-MS) 激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS) 痕量杂质测定 高纯碲和镉 glow discharge mass spectrometry (GD-MS) laser ablation inductive coupled plasma mass spect determination of trace impurity high purity Te and Cd 
红外技术
2010, 32(4): 226
作者单位
摘要
昆明物理研究所,云南昆明650223
辉光放电质谱法(GDMS)作为一种固体直接分析技术,已广泛应用于各种金属、半导体材料的痕量和超痕量杂质分析。充分挖掘仪器的应用潜力,利用固体样品分析表征时所获得的诸多干扰峰信息,结合GDMS仪器的工作机理和特点,分析和甄别样品中的未知常量元素,以获得更全面的样品信息和更可靠的分析结果
辉光放电质谱法 干扰峰 未知元素分析 glow discharge mass spectrometry interference peaks unknown elements analysis 
红外技术
2010, 32(3): 169

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