上海理工大学 光电信息与计算机工程学院, 上海 200093
针对后向动态光散射颗粒测量系统信噪比较低的问题, 从光学系统的像差入手, 采用Zemax对其进行了仿真和分析, 并提出了校正方案。首先介绍了后向动态光散射颗粒测量系统的基本原理和光学系统, 从校正像差的角度出发, 采用Zemax对后向动态光散射系统进行仿真, 并对其像差进行分析。然后根据仿真结果, 提出了校正方案, 采用Zemax设计了方案中的参数, 得出了理论上的校正结果。最后采用优化好的结果进行后向动态光实验, 得到了实验数据。均值误差和重复性误差分别达到了1.52%和1.24%。满足国标均值误差和重复性误差小于2%的要求。
后向动态光散射 像差 dynamic light back scattering system aberration Zemax Zemax
上海理工大学 光电信息与计算机工程学院，上海 200093
针对后向散射光谱粒径测量法对亚微米颗粒测量准确度较差的问题，提出了一种采用紫外光作为光源的测量方法.通过快速傅里叶变换计算了粒径为0.25~1 μm的聚苯乙烯亚微米颗粒的后向散射频谱，将频谱峰值对应的频率值与相应的颗粒粒径进行线性回归，各粒径值相对于回归直线的平均误差为±0.02 μm. 结果表明，本文提出的300~400 nm的紫外光适用于测量0.25~1 μm的亚微米颗粒，相比目前国外最新的采用可见光谱或红外光谱的方法准确度提高了一个数量级，同时该方法也适用于测量双峰分布亚微米颗粒系.
颗粒测量 后向散射 快速傅里叶变换 线性回归 Particle sizing Backscattering Fast Fourier Transform(FFT) Linear regression
