发光衰减是发光的重要过程, 测量发光寿命对研究发光机理十分重要, 但传统研究在概念和方法上存在两个差错: (1)概念上认为衰减等同于激发态数目的减少, 而忽视了衰减是发光强度的下降, 两者是不同的概念； (2)方法上基于激发态规律推导, 假设的边界条件不符合实际, 没有实验的支持。 同时, 传统方法对设备的要求很高, 且只限于光致发光。 为了纠正差错, 降低成本, 搭建了一套全新的电致发光衰减测量系统, 可用于所有可以周期激发的发光类型。 从能量转换原理出发, 采用周期激发, 用脉冲间隔时间作为时间尺度来度量发光衰减持续的时间, 通过脉冲间隔时间与发光寿命的对比, 相应地发光强度有不同的变化, 根据该现象简便地测量出发光寿命。 基于该原理搭建的发光衰减测量系统, 实验结果表明了发光强度随着激发频率, 先保持不变然后逐渐下降, 通过测量下折点即能够推算出发光衰减寿命, 而且还发现发光衰减寿命与初始发光强度呈正相关的关系。 认为发光寿命是发光强度的变化, 是区别于传统研究以激发态数目为研究对象的一大创新, 同时通过实验证明了发光寿命与初始亮度相关, 也拓展了对发光寿命的新认识。