作者单位
摘要
东北石油大学 电子科学学院, 黑龙江 大庆 163318
基于四层光纤模型, 采用数值模拟方法, 研究了镀膜长周期光纤光栅的膜层折射率及厚度等参数对其传输谱特性的影响。结果表明, 随膜厚增加, 各包层模式有效折射率增大, 谐振波长向短波区漂移。当膜厚达到一定数值后, 有效折射率及谐振波长急剧变化, 长周期光纤光栅频谱出现模式转换现象, 模式跳变转折点对应最优薄膜厚度, 不同薄膜介质对应不同的最优膜厚, 研究对提高长周期光纤光栅传感器的敏感度具有重要的指导意义。
镀膜长周期光纤光栅 有效折射率 谐振波长 最优膜厚 coated long period fiber gratings effective refractive index resonant wavelength optimum overlay thickness 
光学技术
2020, 46(1): 68
作者单位
摘要
1 哈尔滨工业大学 精密仪器研究所, 黑龙江 哈尔滨 151400
2 东北石油大学 电子科学学院, 黑龙江 大庆 163318
为评定齿轮测量中心测量不确定度,提出了一种基于拟蒙特卡罗法(quasi Monte-Carlo method,QMC)的齿轮测量不确定度评定方法。研究了齿轮测量中心的几何误差源,应用坐标变换法建立了齿轮测量中心精密测量模型,采用拟蒙特卡罗仿真法对齿轮测量中心测量不确定度进行了评定,并分析了评定的稳定性。评定实验表明,该方法可准确评定齿轮测量中心测量不确定度,评定结果最大偏差为2.35%,评定方法稳定。
齿轮测量中心 拟蒙特卡罗法 测量不确定度 gear measuring center quasi Monte-Carlo method(QMC) measurement uncertainty 
光学仪器
2015, 37(2): 111
作者单位
摘要
东北石油大学 电子科学学院,黑龙江 大庆163318
采用磁控溅射法在Si(100)衬底上制备了Zn0.98Cr0.02O薄膜。利用X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱分析仪(XPS)、扫描电子显微镜(SEM)和综合物性测量系统(PPMS)对所制备的样品进行了结构、成分、形貌和磁性能分析,研究了衬底温度对薄膜的结构、形貌和磁性能的影响。XRD 分析表明,Zn0.98Cr0.02O薄膜样品具有纤锌矿结构,呈c轴择优取向生长;XPS显示薄膜样品中的Cr离子是+3价。磁性测量表明,Zn0.98Cr0.02O薄膜具有明显的室温铁磁性,且随着衬底温度的升高,薄膜的铁磁性逐渐减弱。
衬底温度 Zn0.98Cr0.02O薄膜 磁性 磁控溅射 substrate temperature Zn0.98Cr0.02O thin films magnetic properties magnetron sputtering 
光学仪器
2013, 35(3): 80

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