高光谱成像技术在物证检验领域的应用具有非常重要的意义, 其不仅能够记录物证的光谱特征用以分析物质成分, 而且能够准确记录不同成分的空间分布情况, 从而实现无损、 快速、 定位分析物证成分的功能。 高光谱成像物证检验技术的光谱检测范围通常集中在可见-近红外区域, 而现有基于高光谱成像技术的物证检测设备基本只能单独覆盖可见波段或者近红外波段, 无法实现可见-近红外的宽波段检测需求。 为了拓宽成像光谱仪的检测波段范围从而实现提高物证检验精度和增加物证检验种类的目的, 首先分析了推扫式成像光谱仪的组成结构及工作原理, 剖析了直接研制宽波段成像光谱仪的技术难度和高昂成本, 最后提出了将短波段范围的400～1 000 nm可见高光谱成像仪和900～1 700 nm近红外高光谱成像仪相结合的方式实现宽波段范围的方法。 通过2台高光谱成像设备线视场匹配将独立的2台设备联合作为1台设备使用, 采用定标板辅助装调的方法实现2台高光谱成像仪线视场的像素级拼接, 将设备拼接带来的误差降低到不影响输出结果的程度, 最终研制出一种波段范围可达400～1 700 nm的可见-近红外宽波段高光谱物证检测设备。 搭建实验系统, 分别固定2台独立的短波段范围高光谱成像光谱仪, 利用平移台带动检材沿着垂直于线视场的方向移动实现推扫, 所获取的数据立方体具有400～1 700 nm的宽光谱范围, 400～1 000 nm的光谱分辨率为2.5 nm, 1 000～1 700 nm的光谱分辨率为4 nm。 实验结果表明该方法的可行性, 对于宽波段高光谱成像仪的研制具有指导意义, 使高光谱成像仪在物证检验领域具有更高的应用价值和更广的应用范围。

提出了一种用于显现被碳素墨水掩盖的字迹的光学方法，为查明案情提供了技术支撑。利用红外成像光谱仪采集了被碳素墨水掩盖字迹的光谱影像集，并运用光谱特征匹配法对光谱影像集进行了分析和处理，较清晰地显现了被碳素墨水掩盖的字迹。实验结果表明，基于红外光谱成像的光谱特征匹配法是显现被碳素墨水掩盖字迹的有效光学方法。

提出了一种用于显现涉案ATM机打印凭条上潜在字迹的方法，为查明案情提供了技术支撑。 在365 ? 620 nm的范围内选取7个波段的光线作为入射光对检材进行照射，并在可见光至近红外区选取14 个波段分别成像记录检材的发光亮度分布。通过用580 nm的黄橙光照射检材，并在垂直方向上透过780 nm 的长波通滤光片进行成像，可以较清晰地显现出亮字暗背景的潜在字迹。实验结果表明，利用红外发光成像技术可以成功显 现出ATM机打印凭条上的潜在字迹。

根据设计的支架在耐久振动试验中出现的零件破坏情况，对支架的破坏原因进行了深入地分析和研究工作，其主要承力件静强度的安全系数满足要求，说明这一破坏现象属于疲劳破坏，按照疲劳破坏的理论和具体的支架受力模型，从理论计算入手，对支架进行了疲劳载荷分析计算，依据疲劳破坏理论和计算的结论，对支架中的主要承力件，采取了相关的设计和工艺技术措施，通过耐久振动试验和实际使用证明这些技术措施合理可靠，解决了支架疲劳破坏的问题，使支架满足了环境使用要求.