1 电子科技大学,物理电子学院,成都,610054
2 中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900
侧向背光照相能直接反映靶表面扰动幅度的变化情况.在神光Ⅱ装置上,实验利用侧向背光照相技术,对烧蚀面扰动引起的内界面扰动增长进行了观测.实验结果表明,观察到的内界面扰动幅度大于期望值.分析认为,造成内界面较大扰动增长的原因主要是2维效应.X光辐照的主要是烧蚀面的中间部分,烧蚀面扰动引起的内界面的扰动就呈现出一幅从中间的扰动区域逐渐过渡到四周的图像.由此,提出了新的靶优化设计方案,应尽可能减小沿背光方向的样品尺寸.
流体力学不稳定性 烧蚀面 侧向背光照相 2维效应
西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室,陕西,西安,710049
应用精度较高的体积加权电荷、电流分配模型,对轴对称平板二极管的空间电荷限制流2维效应进行了粒子模拟研究.选取电压分别为100 kV和1 MV两种情况,对空间电荷限制流受二极管尺寸影响的规律进行了模拟.模拟结果表明,2维效应使空间电荷限制流密度随二极管形状因子(阴极发射半径与阴阳极间隙的比值)的减小而增大,且受相对论效应的影响不明显.经数值拟合得到了空间电荷限制流2维效应与形状因子相关的二阶经验公式,其一阶系数与一阶理论结果基本一致,约为1/4.
平板二极管 空间电荷限制流 粒子模拟 2维效应 Planar diode Space-charge-limited current Particle-in-cell simulation 2D geometry effect
