通过紫外-可见-近红外(UV-Vis-NIR) 吸收光谱、 傅里叶变换红外(FTIR)光谱及钻石观测仪( DiamondViewTM)对天然钻石、 经辐照或热处理的天然钻石、 高温高压(HTHP)合成钻石及化学气相沉积(CVD)合成钻石进行了较系统的谱图及微区生长结构的对比研究。 结果表明: 天然钻石、 经辐照或高温退火处理后的天然钻石、 高温高压(HTHP)合成钻石的UV-Vis-NIR吸收谱图在200～1 100 nm区间谱图的反射率变化明显。 相比之下, CVD合成钻石的反射率的变化相对较小。 基于钻石样品的红外光谱分析, 在其图谱中的800～1 600 cm-1区间, 合成钻石样品、 特别是CVD合成钻石在上述区间无明显的特征吸收峰位。 此外, DiamondViewTM检测表明: 一般而言, 经HTHP处理后的CVD合成钻石出现平行的位错线, 并呈现淡蓝色荧光。 部分天然钻石可见典型的八面体生长线或称为树的年轮状图像, 且因样品经辐照与高温高压处理后其荧光图像的颜色发生改变。 高温高压合成钻石呈现出块状几何生长图像。 限于钻石样品类别的多样性及合成钻石工艺的复杂且不断更新特征, 天然钻石与合成钻石 的UV-Vis-NIR或FTIR光谱特征存在一定的相似性, 因此不具有典型天然钻石图谱特征的样品需进一步辅以DiamondViewTM、 光致发光光谱等其他检测仪器予以综合分析。