作者单位
摘要
常州大学 信息数理学院,江苏 常州 213164
利用圆柱形介质设计了一个Bragg微腔结构,含有圆柱形和环形两个微腔。基于传输矩阵理论,通过研究会聚柱面波的反射相移,根据反射相移在Bragg禁带中的尖锐突变来确定微腔结构的共振模。较之其他计算方法,相移方法操作简单,图像直观,且行之有效。研究表明,随着中心圆柱形微腔的半径增大,方位指数相同的两微腔共振模之间会发生相互作用,在腔模光子能量相近时耦合效应最强,导致双微腔的耦合共振模曲线出现反交叉现象。最后给出了耦合共振模的空间电磁场分布。
相移 传输矩阵 Bragg微腔 共振模 Hankel函数 phase shift transmission matrix Bragg microcavity resonant mode Hankel function 
量子光学学报
2015, 21(2): 177
作者单位
摘要
1 江苏工业学院信息科学系,江苏 常州 213016
2 华中科技大学物理系,湖北 武汉 430074
研究了光子晶体Bragg镜的反射相移及透射相移,发现随着入射光频率的增大,相位均在增大。在中心频率附近反射相移和透射相移都与频率成线性关系。利用泰勒展开式的一级近似,得到了中心频率附近反射相移和透射相移的一级近似解析解,它们能很好地描述相移的变化规律。利用相移特性研究了Bragg微腔的共振模随微腔厚度的频率变化特性,同时亦给出了中心频率附近共振模频率的一级近似解析解。
量子光学 相移 光子晶体 Bragg微腔 共振模 quantum optics phase shift photonic crystal Bragg microcavity resonant mode 
量子电子学报
2007, 24(2): 0183
作者单位
摘要
1 江苏工业学院,信息科学系,江苏,常州,213016
2 南京理工大学,材料科学与工程系,南京,210094
3 华中科技大学,物理系,武汉,430074
研究了介质层厚对含负折射率介质一维光子晶体Bragg微腔的缺陷模和双稳态的影响.在中心频率附近将传输矩阵各矩阵元采用泰勒级数展开并取一级近似,得到了缺陷模频率与介质层厚的关系式及品质因子公式.研究结果表明:一级近似法能很好地解释中心频率附近介质层厚对缺陷模频率的影响.理想Bragg微腔结构的缺陷模品质因子最大;递增正折射率介质层厚和增大缺陷层介质层厚、递减负折射率介质层厚及同时等量递减正和负折射率介质层厚,均可使缺陷模红移,双稳态阈值降低.
物理光学 缺陷模 双稳态 负折射率介质 Bragg微腔 
光子学报
2007, 36(5): 912

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